蛍光X線分析装置で、ICP-AES・発光分光分析装置レベルのPb測定

 

RoHS指令を受けて、規制物質を含有するかどうかを 出荷する時に、あるいは部品受入時に、検査して

いる工場が多くなりましたが、明らかに規定値よりも低い・高い場合には、蛍光X線分析装置でも使用でき

ますが、際どいレベルですと、ICP-AES等のより精密に分析できる装置を備えた分析機関等へ依頼分析し

ている場合が殆どです。

検査対象物としては、端子メッキ等のメッキ品やはんだづけ品、インク、塗料、樹脂成形品、高分子化学物

質が多いようです。

この為、時間がかかり、対応が遅くなったり、やむなく非常に高価なこれらの装置の導入を検討される場合

も多いと推察します。

 

最近、蛍光X線分析装置を使用して、ICP並みのPb濃度を測定する方法が発表されましたので、紹介しま

す。

ICPと蛍光X線分析装置で測定した値をプロットして、検量線グラフを作成し、蛍光X線分析装置で測定した

値を検量線グラフにて、含有量をはじき出す方法です。詳しくはお問い合わせ下さい。

 

蛍光X線分析装置は、取扱資格が不要で、誰もが取り扱い可能ですし、ICP-AESのように測定範囲が狭く

なく(5mm程度)、Pb含有率の場所による ばらつきが、より平準化される利点があります。

只、試料組成の不均質な面をクリアする為に、試料をより薄くカットできる精巧・精密な切断機を使用する

事が必要になってきます。

 

 


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