製品・事例紹介

2022.06.03

製品紹介

AIプラットフォーム｜AI学習モデル開発～インライン外観検査自動化

従来の画像処理検査の問題点

製造業では完成品の歩留まり向上、不良品の流出防止などを目的に、様々な検査システムを導入しています。画像を使って製品のキズや欠陥などを調べる検査において、完全自動化できずに半自動化に留まるものも多く、最終チェックは人の目に頼らざるを得ないのが実情です。特に個体差のあるものや、良品と不良品の境目が曖昧なものなどの検査では、これまでのルールベースによる画像処理では、アルゴリズムの構築や過検出と未検出のバランス調整が難しいことが多く、完全自動化への課題となっていました。

AIプラットフォームの概要・構成

AIプラットフォーム概要

AIプラットフォームは、AI開発からインライン展開までをワンストップで支援するプラットフォームです。AIによる画像分類機能によって、個体差がある製品の検査や、汚れや色ムラを見る官能検査、過検出の再分類など、これまで目視検査に頼っていた工程の自動化に貢献します。さらに導入後も収集した画像を使用して追加の学習を行うことで、継続的な判定の精度向上が可能です。また不良品の画像収集が困難という課題に対して、良品のみの学習により、良品・不良品を判断する機能を搭載しております。AIプラットフォームは低コスト、短時間で導入が可能であり、AI開発環境の構築や動作検証の手間を省き、システム導入や運用コストの削減と、検査効率の向上に寄与します。

AIプラットフォーム構成・特徴

AIプラットフォームは、AI開発ツールとWIL®推論ライブラリで構成されます。
※「WIL®」は株式会社ファーストの登録商標(登録第5137538号)です。

AI開発(学習・評価、オフライン機)からインライン展開までの一貫プラットフォーム
ソフトウェアとハードウェアを組み合わせたプラットフォームの提供によりAI開発環境導入コストを抑制
インラインでは、既存ライブラリの追加機能のように、これまでの標準機にアドオン可能

AI開発ツール『FV-AID』

実運用を目指したAI(ディープラーニング)開発のデータ管理、学習、評価を一元管理するAI開発ツールです。学習した判定基準に合わせて画像を分類する機能と、良品のみを学習して異常度(良品からの離れ具合)を出力する機能を備えています。

主な機能

オフラインでの開発作業
データセットの管理｜アノテーションサポート機能※
学習と評価｜複数設定で一括学習機能・精度評価の交差検証機能
画像分類/良品のみ学習をサポート

WIL®推論ライブラリ『WIL®-PDL』

FASTの標準画像処理装置(FV2340とFV1410)上で動作し、FV-AIDで作成した学習済みモデルをIntel OpenVINO™を利用した高速CPU推論を行います。WIL®-PDLはAI推論を行うWIL®のオプションライブラリです。従来の画像処理機能(ルールベース)にAI機能を追加して、お客様の検査装置などのアプリケーションでご利用いただけます。ルールベースとAIにはそれぞれの得意不得意があるので、それぞれを補完することでより良いソリューションを得られます。